91̽»¨

Göteborgs universitet
  2. Om universitetet
  3. Hitta person
  4. John Fletcher

John Fletcher

Professor

Institutionen för kemi och ³¾´Ç±ô±ð°ì²â±ôä°ù²ú¾±´Ç±ô´Ç²µ¾±
Telefon
031-786 91 05
0766-22 91 05
E-post
john.fletcher@chem.gu.se
µþ±ð²õö°ì²õ²¹»å°ù±ð²õ²õ
Medicinaregatan 7 B
413 90 Göteborg
Rumsnummer
7454
Postadress
Box 462
405 30 Göteborg

Om John Fletcher

Min forskning är fokuserad på utveckling och tillämpning av avbildande masspektrometri, särskilt för biologisk analys. Time-of-flight sekundär jon masspektrometri (ToF-SIMS) använder en fokuserad jonstråle för att frigöra atomer och molekyler från en yta. Dessa analyseras sedan med masspektrometri. Genom att flytta jonstrålen från pixel till pixel genereras en kemisk karta över provets yta. Tekniken tillåter nu kemisk specifik avbildning på en sub-cellulär nivå utan behov av markörer. I och med implementeringen av polyatomära jonkällor som C60 och på senare tid gasklusterjonstrålar erbjuds nu en väg till molekylärdjupprofilering (övervakning av kemiska signaler när provet långsamt urholkas av jonstrålen) och 3D molekylär avbildning.

Det finns en naturlig komplementaritet mellan ToF-SIMS och matris assisterad laser desorption jonisering (MALDI) avbildning och jag använder en kombination av dessa tekniker för att undersöka biologiska processer på en cellulär nivå.

Gruppmedlemmar:

Alfred Fransson

Simon Uzoni